HAST(濕(shi)熱加速(su)老化測試(shi))試(shi)驗箱在IC(集成電路)半(ban)導體測試(shi)中的(de)應用主(zhu)要是評估半(ban)導體器件...
在當今競爭激烈(lie)的(de)市場(chang)環境中(zhong),產品(pin)質量(liang)(liang)是企業立(li)足的(de)基石。為了確保產品(pin)質量(liang)(liang),企業需要投...
在各(ge)行各(ge)業中,測(ce)試是(shi)非常重要的一(yi)個(ge)環節。無(wu)論是(shi)產品(pin)的研發(fa)階段,還(huan)是(shi)生產過(guo)程(cheng)中的質量...
產(chan)品(pin)可靠性測試是(shi)評估產(chan)品(pin)在特(te)定條件(jian)下能夠(gou)持(chi)續運行(xing)而不出現(xian)故障的(de)(de)能力。為了保(bao)證(zheng)產(chan)品(pin)的(de)(de)...
HAST試(shi)驗箱(Highly Accelerated Stress Testing),是一種通過模擬極端環境條件來測(ce)試(shi)產品可靠(kao)性和耐...
HAST試(shi)驗(yan)箱是一種用于測試(shi)半(ban)導體器件(jian)可靠性的設備,它可以模擬高溫(wen)(High Temperature)、高濕(...